探針臺是半導體行業重要的檢測裝備之一，其普遍應用于復雜、 高速器件的精密電氣測量，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。半導體測試可以按生產流程可以分為三類：驗證測試、晶圓測試測試、封裝檢測。探針臺主要用于晶圓制造環節的晶圓檢測、芯片研發和故障分析等應用。除探針臺外，晶圓檢測環節還需要使用測試儀/機，測試儀/機用于檢測芯片功能和性能，探針臺實現被測芯片與測試機的連接，通過探針臺和測試機的配合使用，可以對晶圓上的裸芯片進行功能和電參數測試或射頻測試，可以對芯片的良品、不良品的進行篩選。探針臺建設需要綜合考慮技術、人力、資金等眾多因素。吉林探針臺工作原理

手動探針臺的工作原理及應用范圍。工作原理：手動探針臺是普遍應用于半導體行業的綜合經濟型測試儀器，主要用于半導體芯片的電參數檢測。手動探針臺是通過兩根探針以及吸片盤夠成的回路以及相應大型電參數測試儀對芯片中的集成電路進行檢測的。應用范圍：手動探針臺主要用于對生產及科研中的集成電路、三極管、二極管、可控硅及敏感元件管芯的電壓、電流、電阻等參數進行手動測試。晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換，因為熱脹冷縮現象，定位好的探針與器件電極間會有相對位移，這時需要針座的重新定位，針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調整探針的位置。北京小型探針臺參考價探針臺是人類理解宇宙和了解人類自身的一個重要工具。

平面電機x-y步進工作臺的維護與保養，平面電機由定子和動子組成，它和傳統的步進電機相比其特殊性就是將定子展開，定子是基礎平臺， 動子和定子間有一層氣墊，動子浮于氣墊上，而可編程承片臺則安裝在動子之上。這種結構的x-y工作臺，由于動子和定子間無相對摩擦故無磨損，使用壽命長。而定子在加工過程中生產廠家根據不同的設計要求如分辨力等，用機加工的方法在一平面的鐵制鑄件上加工出若干個線槽，線槽間的距離即稱為平面電機的齒距，而定子則按不同的細分控制方式，按編制好的運行程序借助于平面定子和動子之間的氣墊才能實現步進運動。對定子的損傷將直接影響工作臺的步進精度及設備使用壽命，損壞嚴重將造成設備無法使用而報廢。

探針測試臺x-y工作臺的分類，縱觀國內外的自動探針測試臺在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺，可編程承片臺、探卡/探卡支架、打點器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測試儀(TESTER)相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺結構的不同可為兩大類，即:以美國EG公司為表示的平面電機型x-y工作臺(又叫磁性氣浮工作臺)自動探針測試臺和以日本及歐洲國家生產的采用精密滾珠絲杠副和直線導軌結構的x-y工作臺型自動探針測試臺。由于x-y工作臺的結構差別很大，所以其使用維護保養不可一概而論，應區別對待。探針臺可以幫助科學家研究和觀測太陽系、銀河系乃至更遠的星際空間。

手動探針臺系統顧名思義是手動控制的，這意味著晶圓載物臺、顯微鏡以及定位器/操縱器都是由使用者手動移動的。因此一般是在沒有很多待測器件需要測量或數據需要收集的情況下使用手動探針臺。該類探針臺的優點之一是只需要較少的培訓，易于配置環境和轉換測試環境，并且不需要涉及額外培訓和設置時間的電子設備、PC或軟件。由于其靈活和可變性高的特點，非常適合研發人員使用。全自動探針臺相比上述兩種添加了晶圓材料處理搬運單元（MHU）和模式識別（自動對準）。負責晶圓的輸送與定位，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試。可以24小時連續工作，通常用于芯片量產或有一些特殊要求如處理薄晶圓、封裝基板等。全自動探針臺價格也是遠比手動/半自動探針臺要昂貴。探針臺能夠捕捉到宇宙中不同能量和波長的輻射線，并運用檔次高技術解析這些信息。真空溫控探針臺廠家現貨

探針臺的建設需要克服很多技術難題。吉林探針臺工作原理

半自動型，chuck尺寸800mm/600mm，X,Y電動移動行程200mm/150mm，chuck粗調升降9mm，微調升降16mm，可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡，針座擺放個數6～8顆，顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2"，可搭配Probe card測試，適用領域：8寸/6寸Wafer、IC測試之產品。電動型：chuck尺寸1200mm，平坦度土1u（不銹鋼或鍍金），X,Y電動移動行程300mm x 300mm，chuck粗調升降9mm，微調升降16mm，微調精度土1u，可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實體顯微鏡，針座擺放個數8～12顆，顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“，材質：花崗巖臺面+不銹鋼，可搭配Probe card測試，適用領域：12寸Wafer、IC測試之產品。吉林探針臺工作原理

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